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In der Radiographie ist der Zusammenhang von Dosis und Dichte analoger Systeme (ALARA-Prinzip) aufgehoben worden, der die Bildqualität (BQ) festgelegt hat. Bei digitalen Systemen wird die BQ mit diagnostischen und technischen Verfahren ermittelt. Mit diagn. Verfahren werden Prüfkörperstrukturen analysiert, deren Erkennbarkeit durch die Übertragungsleistung des bildgebenden Systems begrenzt ist. Diese Strukturen sind sehr schwierig herzustellen. Bei techn. Verfahren werden z.B. Kanten verwendet. Die Abbildungen werden im Fourierraum analysiert und liefern Werte, wie eine MTF oder das NPS. Eine visuelle Bewertung derartiger Strukturen ist unmöglich. Diagn. Verfahren können angewendet werden auf Dicom Images for processing (Orginaldaten) und for presentation; techn. Verfahren benötigen Dosisdaten (DD). Die Berechnung der DDs könnte mit Angaben zur Kennlinie vorgenommen werden, die im Header jedes DICOM images vorhanden sein sollten, aber i.d.R. nicht angegeben werden. Alternativ muss die Kennlinie eines Systems experimentell ermittelt werden. Beispiele für diagn. Verfahren gibt es einige: CDCOM (EUREF-Gruppe), CDIC (FH-Köln) und aus der Universidad Complutense de Madrid (UCM), die sich alle auf den sogenannten CDMAM Prüfkörper beziehen. Techn. Verfahren wurden bislang nur an der FH-Köln entwickelt; Verfahren ohne Analysen im Fourierraum wie Optimage (Centre de Rech. H. Tudor, Luxemburg) oder Entwicklungen an der FH Gießen, beschreiben die BQ nur unvollständig. Technische Verfahren liefern die genauesten Ergebnisse, sind aber (bislang) nur mit erhöhtem experimentellem Aufwand zu ermitteln (Kennlinie). Diagnostische Verfahren liefern aufgrund der nicht ausreichend hohen Genauigkeit der Prüfkörper weniger präzise Daten. Beide Verfahren benötigen noch Untersuchungen um verfahrensspezifische Grenzwerte zu ermitteln.
Lernziele:
Trennung zwischen diagnostischen und technischen Prüfverfahren. Technische Prüfverfahren erfordern Originaldaten. Wissenschaftliche Vergleiche fehlen
Korrespondierender Autor: Blendl C
Fachhochschule Köln, Institut für Medien- und Phototechnik, Betzdorferstraße 2, 50679 Köln
E-Mail: christian.blendl@fh-koeln.de